机内测试系统虚警问题的数学模型分析

根据虚警产生的机理及机内测试(BIT)系统信息处理流程对虚警率建模．基于Bayes概率分析构建了传统BIT系统虚警率的分析模型．为降低虚警率，提出嵌入数据异常检测和恢复功能的BIT系统改进模型，并证明了该模型的有效性，对影响FAR的因素进行了系统分析．分析表明，影响虚警率的主要特性参数有诊断层的虚警率以及传感层的漏警率和故障率．     

设备故障信息融合问题的思考

认为信息融合技术是工程需求和科技发展的必然结果,给出了信息融合前应当去噪的信息熵解释,探讨了对信息融合方法的要求,提出了融合－识别的构架问题并了三类融合识别构架,对现有的一些信息融合的方法进行了回顾和小结。