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为了分析不同盐密值下污秽绝缘子并联间隙的雷电冲击击穿特性,以SC-210瓷横担绝缘子为例进行雷电冲击试验,通过对比清洁和污秽绝缘子的电场仿真结果,对试验时多次发生沿绝缘子表面闪络的现象进行了分析. 试验和分析表明:安装并联间隙的SC-210瓷横担,其雷电冲击击穿电压U50%随盐密值增加而降低,更容易趋于饱和;污秽绝缘子与防雷间隙的雷电冲击伏秒特性曲线逐渐相交,试验时多次发生沿绝缘子表面闪络的现象. 研究结果建议在进行并联间隙与绝缘子串的绝缘配合整定时,应考虑绝缘子表面污秽对闪络/击穿部位的影响. 相似文献
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