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用于低压和高压器件的IGBT的额定过载特性
引用本文:黄慧.用于低压和高压器件的IGBT的额定过载特性[J].变流技术与电力牵引,2006(1):23-29.
作者姓名:黄慧
摘    要:具有薄n基区和低掺杂场截止层新结构的非穿通绝缘栅双极型晶体管NPT IGBT明显降低了总损耗.特别是场截止概念与挖槽晶体管单元的结合能产生通态电压最小、开关损耗最低、载流子浓度近乎理想的器件.这种概念在600V~6.5 kV以上的IGBT和二极管中得到了发展.当折衷性能和总耐量与电压和电流额定值无关时,低压器件的开关特性与高压晶体管(VBr>2 kV)的处理方法不同.采用HE-EMCON二极管和高达1 700 V的新型场截止NPT IGBT,几乎不受开关性能的限制,不过,需考虑的是外部栅极电阻必须取确定值.相比低压晶体管,高压器件的电流密度较低,因而高压二极管和IGBT中的"动态"电场强度更临界.

关 键 词:续流二极管  绝缘栅双极晶体管(IGBT)  过载关断性能  耐量  短路  低压  高压器件  IGBTs  过载特性  Devices  Characteristics  临界  电场强度  动态  高压二极管  电流密度  确定值  电阻  栅极  开关性能  处理方法  高压晶体管  开关特性  额定值  耐量
文章编号:1671-8410(2006)01-0023-07

Rated Overload Characteristics of IGBTs for Low-Voltage and High-Voltage Devices
L. Lorenz.Rated Overload Characteristics of IGBTs for Low-Voltage and High-Voltage Devices[J].Converter Technology & Electric Traction,2006(1):23-29.
Authors:L Lorenz
Abstract:
Keywords:freewheeling diode  IGBT  over-loaded turn-off behavior  robustness  short circuit
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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