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| IGBT模块功率循环能力与可靠性试验 | |
| 引用本文： | 李世平,黄蓉,奉琴,万超群,陈彦.IGBT模块功率循环能力与可靠性试验[J].机车电传动,2015(3):15-18. |
| 作者姓名： | 李世平 黄蓉 奉琴 万超群 陈彦 |
| 作者单位： | 株洲南车时代电气股份有限公司半导体事业部 |
| 摘 要： | 为验证IGBT模块的可靠性,分析了IGBT模块的封装结构,并在传统IGBT模块功率循环试验的基础上建立新的模型,通过具体的试验得到IGBT模块功率循环后失效状况,并对该状况进行分析。相对传统IGBT寿命预测和可靠性评估,该功率循环的新方法更加贴合实际应用工况,对IGBT失效分析具有借鉴作用。 |
| 关 键 词： | IGBT模块 封装结构 失效 功率循环 模块性能 可靠性试验 |
Power Cycling Capability and Reliability Test of IGBT Modules |
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