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| 大功率半导体器件的可靠性评估 | |
| 引用本文： | 张明.大功率半导体器件的可靠性评估[J].变流技术与电力牵引,2015(1):1-9. |
| 作者姓名： | 张明 |
| 作者单位： | 株洲南车时代电气股份有限公司 |
| 摘 要： | 文章从可靠性的数学、物理基础出发,描述了现代可靠性工程,介绍了功率半导体的可靠性问题。以4045型IGCT器件为例,阐述了3种重要的加速试验,得到了相应的失效率曲线,给出了计算实例。 |
| 关 键 词： | 可靠性 失效率 IGCT 加速试验 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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