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| 基于双MCU的断路器性能测试仪设计 | |
| 引用本文： | 王阿娣,景国良.基于双MCU的断路器性能测试仪设计[J].江苏科技大学学报(社会科学版),2004,18(6):43-46. |
| 作者姓名： | 王阿娣 景国良 |
| 作者单位： | 江苏科技大学电子信息学院,江苏,镇江,212003;江苏科技大学电子信息学院,江苏,镇江,212003 |
| 基金项目： | 企业协作技术攻关课题(校编2002303) |
| 摘 要： | 介绍一种自行设计的万能式断路器性能测试仪,该测试仪用于测试万能式断路器中的配套部件"智能控制器"的性能指标,该测试仪电路采用双单片机89C2051、89C51、HD7279、AD574等组成,经生产现场使用,性能优越,具有实用价值. |
| 关 键 词： | 单片机 断路器 性能测试 |
| 文章编号： | 1006-1088(2004)06-0043-04 |
| 修稿时间： | 2004年8月5日 |
Design of Property Detector for Interrupter Based on 2-MCU |
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