大尺寸断面轮廓视觉测量中的存储技术探讨

目前，随着光学精密仪器技术、DSP技术、嵌入式技术、FPGA技术等的发展与综合应用，机器视觉的分辩率大大提高。如单摄像机的分辩率可达1280×1024、而CCD阵列的分辩率更是突破了16000×16000。视觉感知的信息量非常丰富、信息非常细腻，加之视觉测量为非接触式柔性测量，测量范围宽、测量精度高、安装方式灵活等独特的优势，机器视觉在测量的各种领域获得了广泛的应用。