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| 数字阵列模块的可靠性研究 | |
| 作者姓名： | 吴文婷 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第38研究所,安徽合肥,230031 |
| 摘 要： | 数字阵列模块(DAM)是数字阵列雷达的核心部件,在数字阵列雷达中,DAM的数量往往占到设备量的70％以上,其可靠性对雷达整机的影响非常大.本文详细分析了影响数字阵列模块可靠性的几种因素.针对其中最大的两类干扰因素,给出了提高可靠性的具体方法.通过电磁兼容性设计以及增加老炼试验,能使数字阵列模块的可靠性提高50％左右. |
| 关 键 词： | 数字阵列模块 可靠性 电磁兼容 老炼 |
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