混合型电路的内装式自测试（BIST）结构

模拟集成电路的复杂性的制造密度的提高，使得电路的测试成为一个重要同时又是困难的任务，传统的模拟电路的测试，被局限在外接一定数目的测试脚这种方式上，一种称为ＢＩＳＴ结构的方法则完全不同，它不仅有着可控性，易于观测的特点，而且较之以前所报道过的方法，明显降低了电路测试的硬件费用。