| 组合电路的故障测试生成D算法研究 |
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| 引用本文： | 陈永刚,张彩珍.组合电路的故障测试生成D算法研究[J].兰州铁道学院学报,2002,21(6):14-16. |
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| 作者姓名： | 陈永刚 张彩珍 |
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| 作者单位： | 陈永刚（兰州铁道学院,信息与电气工程学院,甘肃,兰州,730070）
张彩珍（兰州铁道学院,信息与电气工程学院,甘肃,兰州,730070） |
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| 基金项目： | 甘肃省自然科学基金资助项目.ZS98-1-A22-030-G. |
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| 摘 要： | 测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码，测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏。确定性测试中，测试算法的研究显得尤为重要。分析了组合电路的故障测试生成D算法，以施耐得计数器电路为例，研究了D算法在组合电路故障测试生成中的应用，并给出了D算法与通路敏化法、布尔差分法的应用比较结果。
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| 关 键 词： | 组合电路 测试生成算法 D算法 通路敏化法 布尔差分法 故障测试 |
| 文章编号： | 1001-4373(2002)06-0014-03 |
| 修稿时间： | 2002年9月18日 |
The Study of D-Algorithm for Trouble Test Generation in Combinational Circuit |
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