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一种求解组合逻辑电路最小完全检测集的算法
作者姓名:邓斌 谷京朝
摘    要:
提出了种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法,通过此算法可以得到组合逻辑电路中任意可测故障的测试及最小完全检测集。

关 键 词:D算法 最小完全检测集 组合逻辑电路
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