| 弹上电子产品加速寿命试验设计与应用 |
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| 引用本文： | 文建国,郭桂友.弹上电子产品加速寿命试验设计与应用[J].舰船电子工程,2013,33(2):99-101. |
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| 作者姓名： | 文建国 郭桂友 |
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| 作者单位： | 1. 海军航空工程学院 烟台264001
2. 海军装备部装备采购中心 北京100071 |
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| 摘 要： | 弹上电子产品是导弹的重要组成部分,其贮存性能直接决定着导弹的技术状态。为了快速预估弹上电子产品的贮存使用寿命,针对其不同贮存使用环境,利用加速寿命试验的设计原则,对加速老化试验方案进行了设计。该试验方案可为进一步设计导弹在不同环境应力影响下的加速寿命试验提供试验设计思路。
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| 关 键 词： | 导弹 电子产品 加速寿命试验 环境应力 |
Design and Application of the Accelerated Life Test on Electronic Products of Missile |
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| WEN Jianguo
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GUO Guiyou.Design and Application of the Accelerated Life Test on Electronic Products of Missile[J].Ship Electronic Engineering,2013,33(2):99-101. |
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| Authors: | WEN Jianguo GUO Guiyou |
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| Institution: | 1.Naval Aeronautical and Astronautical University,Yantai 264001)(2.Equipment Stocking Center of NED,Beijing 100071) |
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| Abstract: | |
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