| 基于K-S检验法和ALTA的IGBT模块可靠性寿命分布研究 |
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| 引用本文： | 吴华伟,叶从进,聂金泉.基于K-S检验法和ALTA的IGBT模块可靠性寿命分布研究[J].重庆交通大学学报(自然科学版),2019,38(1). |
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| 作者姓名： | 吴华伟 叶从进 聂金泉 |
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| 作者单位： | 纯电动汽车动力系统设计与测试湖北省重点实验室,湖北襄阳,441053;纯电动汽车动力系统设计与测试湖北省重点实验室,湖北襄阳441053;武汉科技大学机械自动化学院,湖北武汉430081 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;湖北省技术创新专项重大基金项目;湖北省优势特色学科群开放基金项目 |
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| 摘 要： | 为了获得绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的寿命信息及确定其寿命分布,提出了一种利用Kolmogorov-Smirnov检验法和加速寿命测试数据分析软件(accelerated life testing dataanalysissoftware,ALTA)对其加速寿命试验数据进行研究的新方法。该方法首先对IGBT模块寿命做对数正态分布假设,然后利用K-S检验法对一组IGBT加速寿命数据进行Weibull、对数正态等分布检验对比分析,进而利用ALTA对另一组IGBT加速寿命数据进行仿真分析,结果表明在阿伦尼斯(Arrhenius)加速模型下,IGBT模块寿命服从对数正态分布。该方法使得快速估算IGBT模块寿命成为可能。
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| 关 键 词： | 机电工程 IGBT模块 加速寿命试验 对数正态分布 Kolmogorov-Smirnov检验 |
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