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| X射线荧光光谱法测定Sapo-n型分子筛中主成分SiO_2、Al_2O_3和P_2O_5的研究 | |
| 引用本文： | 张美云,张万宝,李宏愿.X射线荧光光谱法测定Sapo-n型分子筛中主成分SiO_2、Al_2O_3和P_2O_5的研究[J].大连铁道学院学报,1988(2). |
| 作者姓名： | 张美云 张万宝 李宏愿 |
| 作者单位： | 大连铁道学院分析化学研究室，中国科学院大连化学物理研究所，中国科学院大连化学物理研究所 |
| 摘 要： | Sapo-n 型分子筛是一种新型分子筛,当主成分 SiO_2、Al_2O_3和 P_2O_5的含量变化时,其催化活性也有所改变。本文采用 X 射线荧光光谱与粉末压片技术相结合的方法直接测定主成分的含量,对影响分析准确度的基体效应、样品处理温度和压片条件的选择进行了认真考查。实验表明,严格控制标准样品与分析样品的处理温度一致,是确保分析准确度的重要环节。 |
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