首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

电解质CeO2基薄膜伏安特性的研究
引用本文:张德新,岳慧敏,蒋天发.电解质CeO2基薄膜伏安特性的研究[J].武汉理工大学学报(交通科学与工程版),2003,27(2):223-225.
作者姓名:张德新  岳慧敏  蒋天发
作者单位:1. 郧阳师范高等专科学校物理系,丹江口,442700
2. 华中科技大学物理系,武汉,430074
3. 中南民族大学计算机科学学院,武汉,430074
基金项目:湖北省教育厅重点科研项目资助(批准号:99S5056)
摘    要:采用溶胶-凝胶法制备了CeO2基电解质薄膜,测量了CeO2基电解质薄膜的伏安特性,发现在CeO2基电解质薄膜中存在VCNR现象.研究了不同掺杂浓度、不同层数和不同掺杂离子对CeO2基电解质薄膜VCNR特性的影响.

关 键 词:溶胶-凝胶法  CeO2基薄膜  电解质薄膜  VCNR特性  伏安特性  氧化铈基薄膜  燃料电池
修稿时间:2002年11月25

The Current-voltage Characteristics of Ceria-Based Electrolyte Thin Films
Abstract:
Keywords:CeO2
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号