晶振二次筛选过程中的电性能测试系统

论文对晶振二次筛选过程进行了分析,设计了一种晶振二次筛选过程中关键电性能指标检测方法。该方法以计算机为控制核心,结合下位机处理器控制板对系统中的程控设备仪器仪表进行操作控制,实现了多通道晶振测试过程的自动控制、测试数据自动记录存储和自动分析、测试记录和测试报告的自动生成等功能。通过主控板和晶振测试板的分离设计,在提高晶振的测试效率的同时解决了晶振在二次筛选流程高低温测试中的环境温度保障问题、通过对成熟仪器仪表的程序控制保证了测试系统的测试精度、通过定时测试功能降低了测试过程中对人工值守的依赖性。