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利用原位透射电子显微术,研究了单根GaN纳米线Ⅰ-Ⅴ曲线与热效应、电击穿和压电效应的关系.在透射电子显微镜内构建一个基于GaN纳米线的金属-半导体-金属结构,测量单根纳米线的Ⅰ-Ⅴ曲线.随着连续测量次数的增加,纳米线的温度升高,电流逐渐增加,且Ⅰ-Ⅴ曲线由最初的不对称逐渐变得近乎对称;纳米线在较低电压下长时间连续测量后被击穿,Ⅰ-Ⅴ曲线对测量次数不再敏感.将GaN纳米线压弯后,电流明显下降,压电效应明显.分析表明,单根纳米线测量时的时间间隔和接触应力情况等是Ⅰ-Ⅴ曲线变化的重要因素.本研究可为极性纳米线的原位电学性质研究提供实验参考. 相似文献
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地铁车门隔声性能试验研究与分析 总被引:1,自引:0,他引:1
为给地铁车辆部件的选型提供依据,文章对地铁车辆的塞拉门、内藏门进行隔声性能比较试验研究。利用LMS Test.lab振动噪声测试系统,在相同的环境条件下,测量2种型式车门在开门和关门状态下的声压级,分析了各测点的噪声信号与参考信号的相干性。根据插入损失原理,研究内藏门和塞拉门的隔声性能。试验结果表明,塞拉门的隔声性能要优于内藏门。 相似文献