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薄膜界面探测器在污染场地调查中的应用实例探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
薄膜界面探测器(Membrane Interface Probe,MIP)现场探测是一种应用于土壤和地下水中挥发性有机物污染现场调查的技术。以上海某机械厂污染场地土壤及地下水污染范围调查为例,使用MIP探测技术对场地内总石油烃污染的空间分布进行了详细调查,建立现场MIP调查污染分布趋势,同时对MIP调查结果与实际土壤和地下水采样检测实验室分析值之间的相关性进行了分析。研究发现,通过MIP和实验室实测值所分别推导出的污染范围相近,相对较高的响应值与实验室测试结果相关系数平方值(0.8762)也表明了MIP现场探测技术能有效、如实地反映场地上挥发性有机污染物质的分布情况。 相似文献
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