影响CVD法形成VB2薄膜的因素

研究了反应气体的化学当量比、基板材料、基板温度对ＣＶＤ法形成ＶＢ２薄膜的影响。结果表明，化学当量经，绒板材料影响薄膜中ＶＢ２的含量，基板温度影响结晶粒子形态。     

Fe／Ti纳米多层薄膜退火初期的扩散行为

采用双室高真空磁控溅射装置在溅射功率60 W和工作气压0.5 Pa下直流磁控溅射沉积了调制比为1,设计调制周期18.0 nm的Fe/Ti纳米多层薄膜.利用横截面透射电镜(XTEM)、差示扫描量热分析仪(DSC)及小角和广角X射线衍射(SA/WAXRD)分析退火初期的扩散行为.实测调制周期16.2nm,原始沉积Fe/Ti纳米多层薄膜由交替生长的纳米多晶α-Fe和α-Ti组成,调制界面清晰.Fe/Ti纳米多层薄膜热失稳过程包括亚层间的扩散、金属间化合物FeTi形成和长大3个阶段.退火温度为473 K时,保持与原始沉积相同的成分调制结构;退火温度升高到523 K,Fe与Ti亚层间发生互扩散,成分调制结构破坏,但相变未发生;达到最高退火温度623 K,过饱和固溶体α-Fe(Ti)和金属间化合物FeTi形成.     

非晶态Fe40Zr60薄膜吸氢的研究

用磁控溅射镀膜机制备了非晶态Ｆｅ４０Ｚｒ６０薄膜，并用Ｘ射线衍射及穆斯堡尔谱研究了非晶Ｆｅ４０Ｚｒ６０合金吸氢问题。结果发现，吸氢后非晶Ｆｅ４０Ｚｒ６０的同质异能移位ＩＳ及四极分裂ＱＳ增加，且随着Ｆｅ浓度减小，非晶ＦｅｘＺｒ１００－ｘ合金吸氢前后其同质异能移位变化ΔＩＳ增加。并给出了相应的解释。     

脉冲激光沉积 ZnO 薄膜的微结构及发光性能

用波长为1064nm的Nd—YAG激光器，在氧的活性气氛中，通过激光烧蚀Zn靶在Si（111）衬底上获得ZnO薄膜．用电子显微镜（XRD和FESEM）表征ZnO薄膜的结构和表面形貌，用光致发光谱表征光学性质．实验中观察到紫外光发射和深能级的黄绿光发射．紫外光发射是ZnO薄膜的固有性质，深能级光发射是由于存在氧反位缺陷（OZn）．紫外光发射和深能级光发射的强度依赖于薄膜的表面粗糙度．表面粗糙度在nm级范围内的ZnO薄膜可以获得高强度的紫外光．     

Local Tensile Strength of Connection Between H-Steel Beam Flange and Concrete-Filled Circular Column Tube with Through Diaphragm

This paper focused on investigating local tensile strength of connection between steel beam flange and concrete-filled circular column tube with through diaphragm. Three specimens were designed and tested to failure,and the structure behavior was studied by experiment and FEM analysis. On the basis of the results obtained, an estimation for local plastic and ultimate strengths of the connections using yield line theory was attempted, which results in a good prediction.     

溶胶—凝胶法制备氧化铝薄膜

以异丙醇铝为原料，研究了溶胶的浓度、粘度及加入电解质的种类，电解质的浓度和焙烧温度等条件对成膜的影响。     

磁控反应溅射制备Ta—N薄膜的显微组织与畸变分析

利用直流磁控反应溅射技术制备了Ｔａ－Ｎ薄膜。利用ＴＥＭ、ＸＲＤ研究了薄膜显微组织及结构。研究结果，薄膜晶粒细小，可达到１０ｎｍ；在一定工艺条件下制备的Ｔａ－Ｎ薄膜为多相共存结构；磁控反应溅射制备Ｔａ－Ｎ薄膜，沉积压力对薄膜晶粒的显微畸变影响较大，沉积压力降低，晶粒显微畸变增加，导致薄膜中产生较大的微观应力。     

SiNx薄膜的光致发光研究

用射频磁控溅射技术制备了氮化硅薄膜,室温下测试了薄膜的光致发光谱(PL)和光致发光激发谱(PLE),对薄膜材料的发光特性进行了分析.结果表明,在可见光范围内薄膜有很好的光致发光性质.在波长为381 nm的光激发下,SiNx薄膜的主要发光峰位于520 nm(2.38 eV), 553 nm(2.24 eV), 573 nm(2.16 eV),587 nm(2.11 eV)和627 nm(1.98 eV),主要来自电子在导带与缺陷能级才以及缺陷能级与价带之间的辐射复合.