首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   637篇
  免费   14篇
公路运输   228篇
综合类   141篇
水路运输   151篇
铁路运输   120篇
综合运输   11篇
  2024年   7篇
  2023年   13篇
  2022年   18篇
  2021年   22篇
  2020年   20篇
  2019年   15篇
  2018年   7篇
  2017年   11篇
  2016年   8篇
  2015年   30篇
  2014年   27篇
  2013年   24篇
  2012年   22篇
  2011年   35篇
  2010年   40篇
  2009年   41篇
  2008年   37篇
  2007年   32篇
  2006年   22篇
  2005年   28篇
  2004年   19篇
  2003年   29篇
  2002年   20篇
  2001年   19篇
  2000年   16篇
  1999年   16篇
  1998年   11篇
  1997年   10篇
  1996年   15篇
  1995年   9篇
  1994年   3篇
  1993年   6篇
  1992年   9篇
  1991年   5篇
  1990年   1篇
  1989年   3篇
  1987年   1篇
排序方式: 共有651条查询结果,搜索用时 609 毫秒
351.
龚永康  肖望 《水运工程》2019,(12):145-149
针对浅层吹填淤泥层处理效果相对较差的问题,分析宽、窄排水板相结合的加固机理,采用室内和现场试验的方法,对宽、窄热熔排水板的物理力学指标以及单独使用不同宽度排水板的加固效果进行对比分析。结果表明,宽板的加固效果略优于窄板;宽、窄板相结合进行加固比单独使用宽板在吹填淤泥层内孔压消散量、加固后十字板剪切强度等方面的优势明显,且经济性较强,该方法可为类似工程提供借鉴。  相似文献   
352.
针对常规立交主线通行能力计算方法的不足,提出了立交主线通行能力的计算思路,认为立交主线通行能力应当取主线基本路段通行能力和分(合)流区主线通行能力两者中的较小值.为此,基于HCM2000立交主线服务水平的评估方法,推导了立交分(合)流区主线通行能力的计算模型,并举例说明模型的应用.  相似文献   
353.
354.
利用平衡含沙量建立海床冲淤计算公式,由此导出海床冲淤指标新概念,得出海床冲淤判别式,用来预测海床冲淤演变趋势。进一步利用上海国际航运中心洋山港区全潮水文测验资料,计算出海床冲淤指标,预测该海区海床冲淤趋势,预测结果与现场实测很一致。  相似文献   
355.
玻璃纤维增强型复合材料层合梁在受轴向质量块冲击时,由于纤维铺层间的粘结强度较小,该区域易出现初始裂纹.进而扩展为脱层损伤.文章探讨了采用有限元数值模拟对脱层的产生与扩展进行建模、计算分析的方法.针对发生在纤维层问的脱层损伤,基于传统的应力失效准则,结合断裂力学的B-K能量失效准则,建立了混合失效准则来定义界面处的损伤规律,将发生脱层的潜在区域定义为粘结接触.计算结果与实验对比具有较好的一致性.  相似文献   
356.
本文在介绍键合图理论的基本原理和特点的基础上,重点阐述了键合图方法如何应用于汽车动力总成液力悬置系统的建模与仿真。  相似文献   
357.
通过亚低温对新生鼠缺氧缺血性脑损伤(HIBD)大脑皮质神经元一氧化氮合酶(NOS)及血糖水平影响的研究,探讨亚低温对缺氧缺血性脑损伤的保护作用机制。建立新生鼠缺氧缺血性脑病(HIE)标准化动物模型,将其随机分为对照组、31℃亚低温和34℃亚低温干预组并设立假手术组,应用免疫组化染色观察大脑皮质区NOS阳性神经元数目,并利用微量血糖监测仪测定血糖。结果表明,缺血缺氧后12h、24h,亚低温干预组大脑皮质NOS阳性神经元数均显著低于对照组,血糖水平均显著高于对照组。31℃和34℃亚低温干预两组间各个时期大脑皮质区NOS阳性神经元数目及血糖水平无显著差异。亚低温可通过抑制神经元内NOS活性,减少过量NO的生成,以及提高血糖水平,对缺氧缺血性脑损伤鼠大脑神经细胞起到保护作用  相似文献   
358.
有余格   总被引:8,自引:1,他引:7  
本文较详细地讨论了有余格及其一些性质,为进一步深入研究格值逻辑和L一Fuzzy拓扑学创 造了一些有利条件。   相似文献   
359.
《机车电传动》2021,(5):28-32
在电力电子应用中,性能优于硅功率器件的宽禁带功率器件得到广泛关注。然而,传统功率器件封装中的芯片顶部的电气互连结构现在已成为限制宽禁带功率器件寿命的主要因素。因此,有必要通过使用键合缓冲技术将铜键合线、焊带和引线框架来代替铝键合线作为芯片顶部的电气互联以满足宽禁带功率器件在高温工作条件下的要求。文章回顾了不同键合缓冲技术和金属键合材料在功率循环测试中的可靠性表现。其中,因瓦合金键合缓冲材料与铜键合线的结合在众多键合材料中显示出最强大的功率循环测试能力。失效分析显示,宽禁带功率器件封装的薄弱点已经从芯片顶部的键合材料变为氧化铝陶瓷衬底或芯片上表面的铝金属层。  相似文献   
360.
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号