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Wei Wang Xun Cai QiuLongChen MingJiong Lu Open Lab of the High Temp. Mater and Testing Shanghai China .Shanghai Research Institute of Material Shanghai China 《上海交通大学学报(英文版)》2000,(1)
IntroductionIonimPlanation,whichhasbeenestablishedasanimptwdopingmethodintosemiconductoratfluenceslowerthanl0I6ions/Cm2andWhichisanindispensabletechnologyinlnyescaleintegration(LSI)manufcturing,haslat0lyattractedconsiderableattentionasasdsemodificationProcessforvariousmaterials,pwhcularlyformetals.HighfiuenceimPlanationofreactiveionsintomatCrialsleadstothefOrmationofchemicalcompoundsandmetastablephase,suchasAlNandTffowhichhaveultrahighhardnessandgoodresistanccagainstwearresulhnginthegreat… 相似文献
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张明 《变流技术与电力牵引》2006,(5):23-25,45
概述了电力电子器件中的扩散方法,提出了采用离子注入的试验方案,经试验得到了离子注入扩散的规律.在集成门极换向晶闸管(IGCT)器件的阴极端成功实现了硼、铝双杂质离子注入扩散层的正确分布,从而证实了该方法的可行性. 相似文献
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研究了3CrW8V和M2基体进行离子氮化和离子镀TiN复合涂层的结合强度和强化机理。利用XRD法分析了涂层的相结构,用划痕法测定了涂层的结合力,并用SME观察分子划痕形貌。结果表明,离子氮化与离子镀TiN复合涂层的结合力和硬度均高于TiN单层;合理的硬度度梯度分布、膜基界面冶金结合、TiN沉积过程中离子氮化ε-Fe2-3N相的含量减少,离子氮化过渡层对顶层TiN涂层有力的支撑作用,是复合涂层强化的主要原因。 相似文献