排序方式: 共有2条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
使用微晶振的扫描近场声显微镜研究 总被引:1,自引:0,他引:1
描述了一种用于检测超精表面形貌的扫描近场声显微镜(SNAM)。其原理是利用谐振频率为1MHz的未封装伸长型晶振作为微力传器逼近样品表面,在此过程中晶振受到流体阻尼,振动特性发生变化,通过检测振动幅值的变化即可获得样品表面形貌的信息。在分析了SNAM的检测机理基础上,设计了SNAM系统,测量时垂直分辨率可达到纳米级。 相似文献
2.
利用改进的BP网络补偿数控台的运动误差,使精度提高69%,实验表明,这是一条通过智能技术来提高精度的新方法。 相似文献
1