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目前应用在嵌入式系统的各种内存检测方案,很难均衡地满足内存检测性能要求:比较高的检测覆盖率、比较低的硬件开销、比较高的检测速度.根据轨旁安全计算机的系统特性和安全性要求,提出了一种软硬件相结合的内存内建测试架构方案,利用硬件BIST方案来检测高层次内存故障和软件BIST方案来覆盖低层次内存故障.实际项目应用结果显示,该混合内存检测方案可以有效地减少硬件开销和降低检测时间,并提高内存故障检测覆盖率至99%,使系统能够满足高实时性、高安全性的要求.  相似文献   
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