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质子辐照技术在软恢复二极管中的应用   总被引:3,自引:0,他引:3  
介绍了质子能量与辐照深度的关系及质子剂量与软恢复二极管各项性能参数的关系,阐述了质子辐照技术的优越性,还介绢了在软恢复二极管研制中质子辐照配合电子辐照的实际应用。  相似文献   
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