基于边界扫描的混装电路板测试技术研究

随着越来越多的FPGA等复杂逻辑器件应用到武器装备电路板上,电路板上JTAG器件与非JTAG器件并存,并使电路板结构功能日趋复杂,导致传统的方法已不能对该类电路板进行有效的测试。因此,对这种含复杂逻辑器件的混装电路进行测试是迫切需要解决的难题。为此,提出了一种基于onTAP软件实现针对该类电路板边界扫描的测试方法。