低应变法在桩基浅部缺陷检测中的应用

介绍低应变法进行桩基浅部缺陷检测的理论依据,分析浅部缺陷产生的原因,并根据大量实测资料,归纳了检测中经常遇到的各种浅部缺陷桩的波形特征和技术要点,以提高检测准确率,为合理利用低应变法进行桩基检测提供参考。     

基于影子显示位图技术的GIS图形部分的实现

在地理信息系统的开发过程中,对屏幕图形进行精确识别是一个较难解决的技术问题。在某些实际应用中,近似处理的误差已经超过了人们所能接受的程度。该文就地理信息系统中的图形识别技术给出了一种全新的方法——影子显示位图(Shadow Display Bitmap)技术。影子显示位图技术用于精确地识别显示在屏幕上的各种简单的和复杂的图形元素。该文详细地论述了影子显示位图技术的工作原理和实现方法。该文通过实验证明影子显示位图技术解决了识别图形元素时的误差问题,识别复杂图形元素的能力强,比常用图形识别技术容易实现。     

中国古代对光的性质的认识

在对光本性的认识上 ,古人有两种典型说法 ,一种认为光是由光源发出的某种特殊的气 ;另一种则以 17世纪科学家方以智为代表 ,认为光是气内部相互作用的传播 ,并由此发展出了一种原始的光波动学说。在对光的传播范围的认识上 ,古人认为光行有限 ,并广泛应用这种观念来讨论天文学问题。在对光速的认识上 ,古人没有超距作用观念 ,他们先验地认为光的传播需要时间 ,光速极大。在对光的传播方式的认识上 ,古人认为 ,光的传播近程时沿直线而进 ,远程时 ,在一定条件下 ,依曲线而行。这一认识发展的顶峰是方以智的“光肥影瘦”说 ,该说与他的波动光学思想是一致的     

基于客流量和车公里的城市公共交通混合财政补贴优化模型

应用经济学中的资源配置问题,将公共交通运营收入的财政补贴和公共交通车辆改造的财政补贴看作两种资源,并将其分别分配到道路交通和轨道交通中.根据城市公共交通的两种主要补贴方法按客流量和车公里计算,以政府的财政补贴资源和公共交通企业的利润目标构建城市公共交通财政补贴的线性规划模型.依据线性规划的对偶理论推算城市公共交通财政补贴的影子价格;对这两种补贴方法下影子价格的差异对比,提出城市公共交通混合财政补贴模式.最后,以重庆市的公共交通为例验证模型的可行性.研究表明,重庆市的轨道交通按客流量,公交按车公里进行财政补贴更为经济,即混合补贴模式更有利于财政补贴资源得到合理分配.     

基于改进PCNN模型的车辆阴影消除方法

消除车辆阴影对图像分割的影响是车辆自动监控系统中亟待解决的问题。针对阴影具有方向和大小不确定性的特点,充分利用脉冲耦合神经网络模型优良的图像分割能力,结合阴影属性,提出一种基于改进的脉冲耦合神经网络模型的运动车辆阴影消除方法。此方法无需建立道路背景模型与车辆阴影模型,在消除车辆阴影的同时能较好地保留车牌、车窗以及车标等车体的重要信息,为车体定位、特征提取等处理奠定良好的基础。大量现场图像测试结果验证了该方法消除车辆阴影的有效性,可广泛地应用于自然环境中车辆阴影的消除。     

机会约束的影子价格

为了进一步对随机规划进行研究，通过定义机会约束规划的可靠规划的对偶规划，得到了随机规划的对偶规划的一些性质．从对偶规划的最优解出发，得到了机会约束的影子价格的概念，它反映了随机约束条件对于目标函数最优值的影响．通过实例来说明它在经济决策中的应用．     

大气波导对舰载雷达探测性能的影响

大气波导现象会对海军舰艇上雷达装备的探测性能产生严重影响。主要从雷达探测距离、发现概率和探测盲区等方面,结合当前的研究成果,对蒸发波导和表面波导对舰载雷达探测性能的影响进行了总结概述,为更好地利用舰载雷达装备提供了参考,并为下一步的研究奠定基础。     

基于亮度特性的高空间分辨率遥感影像阴影处理研究

在高密度的城市环境中,建筑物产生的阴影遮挡了许多重要信息,导致车辆信息提取不准确甚至无法提取,因此对阴影的处理显得尤为重要.利用遥感影像阴影的几何特征和光谱特征,采用基于亮度的阴影检测方法,通过双峰曲线选取合适的亮度阈值把阴影和光照区进行分割;并用灰度线性映射的阴影补偿方法,通过线性映射对阴影区域进行信息补偿,对高空间分辨率遥感影像的样本数据中的阴影进行试验处理和结果分析,结果证明这一方法是行之有效的.     

工程项目国民经济评价中的影子价格理论

结合河北省保定-衡水公路工程可行性研究的国民经济评价过程,论述了公路工程建设中各种主要投入物的影子价格的确定方法。     

显示屏残影测试方法研究与应用

显示屏的残影现象影响其显示效果,其测试非常耗时,且测试成本高。本文研究总结了一些显示屏残影的测试评估方法,并分析这些方法的差异。每一种方法都会引起一些问题,考虑到测量本身耗时,而且有许多测试是不可逆的,所以在进行残影测量之前需要充分考虑每种方法的特点和不足。此外,本文也简要描述了与成像亮度计相关的,影响残影测试的参数。