高反光陶瓷基片缺陷检测

基于颜色恒常性理论的亮度感知Retinex模型，在频域采用多尺度高斯函数估计出输入图像的光照分量，对其进行伽马变换以增强光照信息，然后由输入图像与光照信息图像的对数运算获得仅包含物体本身特性的反射信息图像，实现对输入图像的校正。对校正后的图像依次进行频域带通滤波、基于全局的自适应阈值分割、形态学处理、亚像素精度的XLD轮廓提取等操作，根据提取结果来判断陶瓷基片表面有无缺陷。实际测试结果表明：该方法判断的准确度约为98.6%，检测时间约为0.21 s，满足工程需求。