首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

不同尺寸对FCBGA元器件焊点可靠性有限元分析
引用本文:薛松柏 张亮 禹胜林 赖忠民 韩宗杰 卢方焱. 不同尺寸对FCBGA元器件焊点可靠性有限元分析[J]. 华东船舶工业学院学报, 2007, 21(6): 13-16
作者姓名:薛松柏 张亮 禹胜林 赖忠民 韩宗杰 卢方焱
作者单位:[1]南京航空航天大学材料科学与技术学院,江苏南京210016 [2]中国电子科技集团第十四研究所,江苏南京210013 [3]江苏科技大学先进焊接技术省级重点实验室,江苏镇江212003
基金项目:2006年江苏省“六大人才高峰”资助项目(06-E-020)
摘    要:采用有限元法对FCBGA器件焊点尺寸和焊点间距进行了优化模拟。研究发现,元器件整体的最大应力集中在阵列最拐角焊点的上表面上,该部位可能成为焊点裂纹的发源地。对焊点最大应力节点进行时间历程处理,发现应力松弛现象严重,且应力值随着温度循环加载具有累积迭加的趋势。焊点优化结果显示,焊点高度对应的应力值曲线具有明显的单调递减特性。模拟的焊点直径值和实际情况吻合,同时发现焊点直径为0.02mm时对应的应力值最小。焊点间距曲线单调性表现为单调递增性,因此,可以根据应力最小的原则来选择焊点尺寸。

关 键 词:有限元 优化模拟 应力松弛 累积迭加
文章编号:1673-4807(2007)06-0013-04
收稿时间:2007-09-12

Finite Element Analysis on of FCBGA Device with Soldered Joint Reliability Different Dimensions
XUE Songbai, ZHANG Liang , YU Shenglin, LAI Zhongmin, HAN Zongfie , LU Fangyan. Finite Element Analysis on of FCBGA Device with Soldered Joint Reliability Different Dimensions[J]. Journal of East China Shipbuilding Institute(Natural Science Edition), 2007, 21(6): 13-16
Authors:XUE Songbai   ZHANG Liang    YU Shenglin   LAI Zhongmin   HAN Zongfie    LU Fangyan
Abstract:
Keywords:finite element method   optimization simulation   stress relaxation   accumulated enhancement
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号