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硅元件反应溅射二氧化硅表面保护
引用本文:
王宪.硅元件反应溅射二氧化硅表面保护[J].机车电传动,1973(2).
作者姓名:
王宪
作者单位:
株洲电力机车研究所电机电器室
摘 要:
一、前言本所过去生产之2 CZ及3 CT硅元件,其表而保护多采用卧式纯O_2反应溅射SiO_2,如图1所示。钟罩内充O_2,维持真空度在10~(-1)~10~(-2)之间,硅棒上加直流负电压1500V左右,硅棒与结片距离30~40mm,在此条件下,
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