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| 国产化背景下车规级芯片环境可靠性试验标准研究 | |
| 引用本文： | 张送,胡慧婧,韦锦波,何逸波.国产化背景下车规级芯片环境可靠性试验标准研究[J].时代汽车,2022(10):4-6. |
| 作者姓名： | 张送 胡慧婧 韦锦波 何逸波 |
| 摘 要： | 随着汽车芯片短缺情况持续加剧,2021年全球汽车总计减产810.7万辆,因疫情"黑天鹅"因素及芯片产业自身的长周期性,汽车芯片短缺问题在短时间内难以消除.在"新四化"浪潮下,汽车产业的芯片需求会进一步扩大,汽车芯片短缺将进一步加剧.车规级芯片技术突破与产业化发展成为根本的解决办法,本文从现有汽车电子产品的环境可靠性试验... |
| 关 键 词： | 车规级 芯片国产化 可靠性试验 试验标准 |