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单模光纤的瑞利散射损耗研究
引用本文:任国斌,王智,娄淑琴,简水生.单模光纤的瑞利散射损耗研究[J].铁道学报,2003,25(5):60-63.
作者姓名:任国斌  王智  娄淑琴  简水生
作者单位:北京交通大学光波技术研究所,北京,100044
摘    要:通过分析单模芯层掺锗、纯SiO2芯(包层掺氟)光纤的Rayleigh散射损耗特性,得到了光纤结构参数芯径和相对折射率差与Rayleigh散射损耗的关系。分析表明,单模光纤的Rayleigh散射损耗与功率限制因子密切相关;对芯层掺锗单模光纤,其Rayleigh散射损耗主要由相对折射率差决定;而纯SiO2芯掺氟单模光纤的Rayleigh散射损耗则主要由芯径大小决定。本文结论对于超低损耗光纤的设计和制造具有指导意义。

关 键 词:光纤损耗  瑞利散射  功率限制因  掺杂
文章编号:1001-8360(2003)05-0060-04

Investigation on Rayleigh scattering loss in single mode optical fibers
Abstract:
Keywords:optical fiber loss  rayleigh scattering  power confinement factor  dope
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