单模光纤的瑞利散射损耗研究 |
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引用本文: | 任国斌,王智,娄淑琴,简水生. 单模光纤的瑞利散射损耗研究[J]. 铁道学报, 2003, 25(5): 60-63 |
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作者姓名: | 任国斌 王智 娄淑琴 简水生 |
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作者单位: | 北京交通大学光波技术研究所,北京,100044 |
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摘 要: | 通过分析单模芯层掺锗、纯SiO2芯(包层掺氟)光纤的Rayleigh散射损耗特性,得到了光纤结构参数芯径和相对折射率差与Rayleigh散射损耗的关系。分析表明,单模光纤的Rayleigh散射损耗与功率限制因子密切相关;对芯层掺锗单模光纤,其Rayleigh散射损耗主要由相对折射率差决定;而纯SiO2芯掺氟单模光纤的Rayleigh散射损耗则主要由芯径大小决定。本文结论对于超低损耗光纤的设计和制造具有指导意义。
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关 键 词: | 光纤损耗 瑞利散射 功率限制因 掺杂 |
文章编号: | 1001-8360(2003)05-0060-04 |
Investigation on Rayleigh scattering loss in single mode optical fibers |
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Abstract: | |
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Keywords: | optical fiber loss rayleigh scattering power confinement factor dope |
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