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| 基于双MCU的断路器性能测试仪设计 | |
| 引用本文： | 王阿娣,景国良.基于双MCU的断路器性能测试仪设计[J].华东船舶工业学院学报,2004,18(6):43-46. |
| 作者姓名： | 王阿娣 景国良 |
| 摘 要： | 介绍一种自行设计的万能式断路器性能测试仪，该测试仪用于测试万能式断路器中的配套部件”智能控制器”的性能指标，该测试仪电路采用双单片机89C2051、89C51、HD7279、AD574等组成，经生产现场使用，性能优越，具有实用价值。 |
| 关 键 词： | 单片机 断路器 性能测试 |
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