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基于双MCU的断路器性能测试仪设计
作者姓名:
王阿娣 景国良
摘 要:
介绍一种自行设计的万能式断路器性能测试仪,该测试仪用于测试万能式断路器中的配套部件”智能控制器”的性能指标,该测试仪电路采用双单片机89C2051、89C51、HD7279、AD574等组成,经生产现场使用,性能优越,具有实用价值。
关 键 词:
单片机 断路器 性能测试
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