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| 故障注入在MCU功能安全测试中的实施研究 | |
| 引用本文： | 张明朗,周子龙,王江波,蔡小丽.故障注入在MCU功能安全测试中的实施研究[J].汽车电器,2020(8). |
| 作者姓名： | 张明朗 周子龙 王江波 蔡小丽 |
| 作者单位： | 比亚迪汽车工业有限公司,广东深圳 518118;比亚迪汽车工业有限公司,广东深圳 518118;比亚迪汽车工业有限公司,广东深圳 518118;比亚迪汽车工业有限公司,广东深圳 518118 |
| 摘 要： | 本文以MCU (电机控制器)为被测对象,以故障注入为主要测试手段,分别进行部件级、系统级、整车级的故障注入测试,并对MCU的功能安全测试的主要项目进行实施研究。试验结果表明,通过故障注入测试可以对系统的安全机制进行有效验证,进而可以实现对系统功能安全的评估。 |
| 关 键 词： | 功能安全 故障注入 电子/电气系统 ISO 26262 |
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