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工业色谱仪温度测控系统的研究与设计
引用本文:李小平,蒋兆远,巴文厂. 工业色谱仪温度测控系统的研究与设计[J]. 兰州交通大学学报, 2008, 27(1): 110-113
作者姓名:李小平  蒋兆远  巴文厂
作者单位:兰州交通大学,机电技术研究所,甘肃,兰州,730070;兰州交通大学,机电技术研究所,甘肃,兰州,730070;兰州交通大学,机电技术研究所,甘肃,兰州,730070
摘    要:介绍了一种基于XTR105和RCV420信号变送和转换元件的工业色谱仪温度测控系统的研究与设计方法.控制器选用AVR单片机,测温元件采用Ptl00,采用Intel8254控制AC220V的过零脉冲数量以及可控硅触发控制电路调节系统的加热功率,数字PID控制算法实现精确控温,在0~448 ℃范围内检测精度为0.1 ℃.可用于不同范围、不同领域的温度测控系统,现已成功应用于工业色谱仪的温度测控系统,对其他的温控系统设计也有一定的参考作用.

关 键 词:XTR105  RVC420 Intel8254  工业色谱仪  温度控制  PID算法
文章编号:1001-4373(2008)01-0110-04
修稿时间:2007-03-21

A Design of Analyzer Temperature Monitoring System
LI Xiao-ping,JIANG Zhao-yuan,BA Wen-chang. A Design of Analyzer Temperature Monitoring System[J]. Journal of Lanzhou Jiaotong University, 2008, 27(1): 110-113
Authors:LI Xiao-ping  JIANG Zhao-yuan  BA Wen-chang
Abstract:
Keywords:XTR105  RVC420 Intel8254
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