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| 缺陷管理的度量 | |
| 引用本文： | 余明亮,罗云锋,贲可荣.缺陷管理的度量[J].舰船电子工程,2008,28(2):115-118. |
| 作者姓名： | 余明亮 罗云锋 贲可荣 |
| 作者单位： | 海军工程大学计算机系,武汉,430033 |
| 基金项目： | 武器装备预先研究项目(编号51327010401) |
| 摘 要： | 描述缺陷数据库的构造方法,总结基于缺陷数据库的Pareto图分析方法以及缺陷过滤矩阵分析方法.缺陷过滤矩阵可以追踪缺陷源,检查缺陷在开发过程中的传播.基于缺陷过滤矩阵,可以分析缺陷移除效率以及其对软件成本的影响,预测潜在软件缺陷和可靠性增长曲线. |
| 关 键 词： | 缺陷管理 缺陷数据库 Pareto图 |
| 修稿时间： | 2007年5月13日 |
Metrics for Defect Management |
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| Yu Mingliang.Metrics for Defect Management[J].Ship Electronic Engineering,2008,28(2):115-118. | |
| Authors: | Yu Mingliang |
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| Keywords: | |
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