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荧光磁粉探伤缺陷识别系统的研究现状与关键技术
引用本文:赵万民,Zeng Dewen.荧光磁粉探伤缺陷识别系统的研究现状与关键技术[J].铁道机车车辆工人,2008(8):1-4.
作者姓名:赵万民  Zeng Dewen
作者单位:上海铁路局南京东车辆段,江苏,南京,210046
摘    要:介绍了荧光磁粉探伤的原理和特点以及研究现状;分析了荧光磁粉探伤缺陷识别系统的关键技术。

关 键 词:荧光磁粉探伤  缺陷识别系统  技术

Present situation of the research of defect identification system with fluorescent magnetic particle detection and the key technologies
Zhao Wanmin,Zeng Dewen.Present situation of the research of defect identification system with fluorescent magnetic particle detection and the key technologies[J].Railway Locomotive & Rolling Stock Workers,2008(8):1-4.
Authors:Zhao Wanmin  Zeng Dewen
Abstract:
Keywords:
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