国际微电子计量与测试技术研讨会（CMMT2010中国武汉）征文通知（http：//www.cmmt.org/cmmt2010）

一、会议主题 微电子技术是当代技术革命的先导与核心。微电子技术的发展，离不开微电子计量与测试技术的保障。当前，微电子器件的发展呈现规模愈来愈大、集成度愈来愈高、速度愈来愈快、结构愈来愈复杂、功能愈来愈强大的特点，同时更高精度、更强功能、更复杂结构的集成电路测试系统得到广泛的推广与应用，给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。