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利用电阻应变片检测裂纹开裂点技术的探讨
引用本文:
金心全,李印生.利用电阻应变片检测裂纹开裂点技术的探讨[J].西南交通大学学报,1981(1).
作者姓名:
金心全
李印生
摘 要:
本文介绍了利用电阻应变片检测Ⅰ型裂纹开裂点的原理和方法,并对实验结果进行了分析和解释,推荐了寻找最佳贴片位置的方法。
本文献已被
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