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P—N结少数载流子寿命试验小结
摘 要:
p—n结少数载流子寿命,是硅元件的一个重要参数,它将直接影响元件的电气性能。尤其是对高压大功率元件,随着基区宽度的增加,少子寿命对元件电性能,特别是正向压降的影响,将越来越显著。提高少子寿命,能使元件的电气性能得到一定的改善。
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