由加速寿命试验来推算电子器件寿命

半导体是组成电子装置的重要元件。对于机械零件,其故障的发生是通过初期故障——偶发故障——磨耗故障这样一个过程。而半导体在额定范围内使用时,一般认为初期故障以后,偶发故障是半永久性的,电子装置的故障是“某日、突然发生”的。但从我们十年来的经验,认为半导体似乎也存在着寿命问题。现在,我们厂只是对特定的电容进行计划更换,至于其他电子器件采取有问题再处理的办法。这种对故障的发生和处理的办法并没有什么进步,因此进行了“加速寿命试验”,以图从特性参数的变化来推算其寿命。