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FeSiAl合金磁性薄膜的制备与研究
引用本文:张榕,裔国瑜,任洪梅,阎明.FeSiAl合金磁性薄膜的制备与研究[J].上海海运学院学报,2003,24(4):378-380,384.
作者姓名:张榕  裔国瑜  任洪梅  阎明
摘    要:用X-射线衍射,扫描电子显微镜研究了直流磁控溅射法制备的FeSiAl合金薄膜。用振动样品磁强计测量了薄膜的磁性能。主要研究了热处理对薄膜的结构和磁性能的影响。结果表明随着退火温度的升高,薄膜的X衍射峰(220)逐步尖锐化,矫顽力不断减小,磁性能有了较大的提高。

关 键 词:铝硅铁薄膜  X射线衍射  磁性薄膜  直流磁控溅射  热处理  薄膜结构
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