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基于FANUC-0i-TD的双路径数控综合实验装置开发
引用本文:李慧玲,罗敏,周明虎,陈志楚.基于FANUC-0i-TD的双路径数控综合实验装置开发[J].装备维修技术,2015(1):25-30.
作者姓名:李慧玲  罗敏  周明虎  陈志楚
作者单位:湖北汽车工业学院;南京工程学院
摘    要:为满足工程应用型自动化类专业学生学习数控技术原理和设计方面的需要,研制了基于FANUC-0i-TD系统的双路径数控综合实验装置。本文详细阐述该实验装置的总体设计思想、数控系统硬件配置、FSSB伺服总线设定、PMC结构化编程等。利用该装置,可进行数控系统连接、伺服驱动设置及调试、PMC连接及编程、数控插补原理、数控宏程序编程、数控ISO代码加工编程等多项实训或实验,为自动化专业学生学习研究数控设备的电气控制设计和调试提供了平台。

关 键 词:数控系统  综合实验装置  可编程机床控制器
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