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| 基于微波暗室的计算机电磁泄漏测试 | |
| 引用本文： | 杨顺辽,卢凌,聂明新,李晟,梁军,宋文武,吴楠.基于微波暗室的计算机电磁泄漏测试[J].武汉理工大学学报(交通科学与工程版),2004,28(5):725-728. |
| 作者姓名： | 杨顺辽 卢凌 聂明新 李晟 梁军 宋文武 吴楠 |
| 作者单位： | 1. 武汉理工大学信息工程学院,武汉,430063 2. 中国船舶重工集团701所,武汉,430064 |
| 基金项目： | 国家重点实验室基金项目资助(批准号:514471101) |
| 摘 要： | 提供了在EMC微波暗室中的PC机电磁泄漏的时域、频域测试方法并进行了实践，取得了整机、外设及网络状态的测试数据，为研究计算机电磁泄漏，特别是有用信息的泄漏，以实现反窃取具有积极意义． |
| 关 键 词： | 微波暗室 电磁泄漏 时域 频域 |
| 修稿时间： | 2004年6月14日 |
Measuring Electromagnetic Leakages from Computer Based on EMC Microwave Anechoic Chamber |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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