基于TD-LTE UE侧随机接入过程的研究与分析 |
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引用本文: | 彭迪,何健.基于TD-LTE UE侧随机接入过程的研究与分析[J].舰船电子工程,2018(3). |
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作者姓名: | 彭迪 何健 |
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作者单位: | 武汉邮电科学研究院;武汉虹旭信息技术有限责任公司; |
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摘 要: | 随机接入过程是LTE系统中必不可少的一个环节,高效快速的随机接入过程对于提高LTE的整体性能具有重要意义。基于TD-LTE系统,从UE的角度对随机接入过程中物理层以及高层协议栈的关键技术和实现细节进行了研究,对提高UE在TD-LTE系统中,随机接入过程的实现效率有很大的帮助和参考意义。
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