首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

挤压深度对屏蔽双绞线电气性能的影响研究
引用本文:王志明,胡文斌.挤压深度对屏蔽双绞线电气性能的影响研究[J].电气化铁道,2016(2):47-50.
作者姓名:王志明  胡文斌
作者单位:南京理工大学
摘    要:在介绍双绞线电容参数、电感参数的基础上,推导出双绞线的集总参数模型;重点研究挤压深度对屏蔽双绞线的电气性能的影响,详细分析与描述了网络分析仪DTX1800所测试到的数据结果;对地铁车辆网络布线提出了优化建议。

关 键 词:挤压深度  电气性能  网络布线
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号