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挤压深度对屏蔽双绞线电气性能的影响研究
作者姓名:王志明  胡文斌
作者单位:南京理工大学
摘    要:在介绍双绞线电容参数、电感参数的基础上,推导出双绞线的集总参数模型;重点研究挤压深度对屏蔽双绞线的电气性能的影响,详细分析与描述了网络分析仪DTX1800所测试到的数据结果;对地铁车辆网络布线提出了优化建议。

关 键 词:挤压深度  电气性能  网络布线
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