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| 含复杂可编程逻辑器件电路板的自动测试技术研究 | |
| 引用本文： | 孙丽平,孟凡波,张允强,丁晓玲.含复杂可编程逻辑器件电路板的自动测试技术研究[J].舰船电子工程,2015(7). |
| 作者姓名： | 孙丽平 孟凡波 张允强 丁晓玲 |
| 作者单位： | 1. 海军航空工程学院 烟台 264001; 中共青岛市委党校 青岛 266071 2. 中共青岛市委党校 青岛 266071 3. 即墨广播电视大学 青岛 266200 4. 青岛职业技术学院 青岛 266555 |
| 摘 要： | 复杂可编程逻辑器件作为电路的核心器件，其故障往往会导致整个电路功能失效。论文详述了国内外含复杂可编程逻辑器件的研究现状，并在分析现有主要采用的测试方法优缺点的基础上，对发展方向和思路进行了分析探索。 |
| 关 键 词： | 复杂逻辑器件 边界扫描 VITAL Scan Works |
Automatic Test Technology with Complex Programmable Logic Device of Circuit Board |
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| SUN Liping,MENG Fanbo,ZHANG Yunqiang,DING Xiaoling.Automatic Test Technology with Complex Programmable Logic Device of Circuit Board[J].Ship Electronic Engineering,2015(7). | |
| Authors: | SUN Liping MENG Fanbo ZHANG Yunqiang DING Xiaoling |
| Abstract: | |
| Keywords: | complex logic devices boundary scan VITAL Scan Works |