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单电子器件Ⅰ-Ⅴ特性的半经曲拟合
引用本文:何红波,周继承,胡慧芳,李义兵.单电子器件Ⅰ-Ⅴ特性的半经曲拟合[J].铁道科学与工程学报,2000,18(2):53-56.
作者姓名:何红波  周继承  胡慧芳  李义兵
作者单位:长沙铁道学院材料研究所,湖南 长沙 410075
基金项目:国家自然科学基金;69771011,69890227;
摘    要:本文在单电子器件半经典的双隧道结模型的基础上,通过对主主程的数值求解,对Au纳米粒子组装体系的库仑台阶现象进行了拟合.单电子器件的半经典拟合对于单电子器件的设计有很大的指导作用.

关 键 词:单电子器件  主方程  single  electron  transistor  master  equation
文章编号:1000-2499(2000)02-0053-04
修稿时间:1999年5月16日

Semiclassical Fitting of the Ⅰ-Ⅴ Property of SET
HE Hong-bo,ZHOU Ji-cheng,HU Hui-fang,I Yi-bing.Semiclassical Fitting of the Ⅰ-Ⅴ Property of SET[J].Journal of Railway Science and Engineering,2000,18(2):53-56.
Authors:HE Hong-bo  ZHOU Ji-cheng  HU Hui-fang  I Yi-bing
Abstract:In this paper,the numerical simulation of master equation based on the DBTJ(Dou ble Barrier Tunneling Junctions)of SET (Single Electron Transistor)are discussed. The nu merical fittings are done for the Columb staircase of nanoscale particle self-assembly system.The semiclassical fitting of SET is very important for the design of SET devices.
Keywords:single electron transistor  master equation
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